高精度膜厚儀的使用方法
膜厚測(cè)試儀的使用方法
半導(dǎo)體膜厚儀的磁感應(yīng)測(cè)量原理
半導(dǎo)體膜厚儀的磁感應(yīng)測(cè)量原理是基于磁通和磁阻的變化來測(cè)定半導(dǎo)體材料上薄膜的厚度。在測(cè)量過程中,儀器利用測(cè)頭產(chǎn)生磁通,這些磁通經(jīng)過非鐵磁覆層(即半導(dǎo)體薄膜)流入到鐵磁基體。由于磁通的流動(dòng)受到薄膜厚度的影.. 全文
光學(xué)鍍膜膜厚儀的測(cè)量原理是?
光學(xué)鍍膜膜厚儀的測(cè)量原理主要基于光學(xué)干涉現(xiàn)象。當(dāng)光源發(fā)射出的光線照射到鍍膜表面時(shí),一部分光線被反射,而另一部分則穿透薄膜并可能經(jīng)過多層反射后再透出。這些反射和透射的光線之間會(huì)產(chǎn)生干涉效應(yīng)。具體來說,膜.. 全文
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