光學(xué)透鏡吸收率測(cè)試儀

膜厚測(cè)量?jī)x的磁感應(yīng)測(cè)量原理主要基于磁通量與磁阻的變化關(guān)系來(lái)測(cè)定覆層厚度。當(dāng)測(cè)量?jī)x的測(cè)頭接近被測(cè)物體時(shí)，測(cè)頭會(huì)發(fā)出磁場(chǎng)，磁場(chǎng)會(huì)經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層并流入鐵磁基體。在此過(guò)程中，磁通量的大小會(huì)發(fā)生變化，而這種變化.. 全文

<div style="text-align:center;margin:5px 0;"><img src="https://upimg300.dns4.cn/pic1/346595/p13/2024.. 全文

后視鏡反射率檢測(cè)系統(tǒng)的價(jià)格有5--10萬(wàn)不等。建議大家盡量選擇一些專(zhuān)注透光率測(cè)試研發(fā)的成熟的廠家，多從消費(fèi)者方面、行內(nèi)評(píng)價(jià)去考量選擇。 全文

在測(cè)量透明材料的透光率時(shí)，可以用透光率測(cè)試儀，可以用于檢測(cè)大厚度材料，精度可達(dá)1%； 全文