光學鍍膜膜厚測試儀是使用哪種測量原理？

光學鍍膜膜厚測試儀主要基于光學干涉測量原理來進行膜層厚度的精確測量。當一束光線垂直入射到待測膜層上時，一部分光線在膜層表面被反射，另一部分則穿透膜層并在膜層內部經過不同材料的反射和折射后再反射回來。這兩部分反射光在膜層表面相遇，形成干涉現象。干涉光強的變化取決于薄膜的厚度和折射率，以及光線的波長和入射角度等因素。具體來說，測試儀內部設有光源、分束器、反射鏡和檢測器等組件。光源發(fā)出的光經過分束器后形成兩束相干光，其中一束直接照射到膜層表面，另一束則經過反射鏡后照射到膜層表面。兩束光在膜層表面相遇并產生干涉，干涉光強的變化被檢測器捕捉并轉化為電信號。通過對干涉光強變化曲線的分析，可以推導出薄膜的厚度信息。這種測量方法具有非接觸、高精度和快速響應的特點，能夠適用于各種類型的光學鍍膜厚度測量。此外，光學鍍膜膜厚測試儀還可以結合其他先進技術，如計算機控制和數據處理等，實現自動化測量和數據分析，提高測量效率和準確性。綜上所述，光學鍍膜膜厚測試儀通過利用光的干涉現象和薄膜的光學特性，實現對膜層厚度的精確測量，為光學鍍膜工藝的質量控制提供了有力的技術支持。