中森檢測(cè)：元素檢測(cè)技術(shù)

元素檢測(cè)技術(shù)是通過(guò)物理或化學(xué)手段分析物質(zhì)中元素種類及含量的科學(xué)技術(shù)，廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測(cè)、工業(yè)質(zhì)檢、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)勘探等領(lǐng)域?，F(xiàn)代檢測(cè)技術(shù)主要分為光譜法、質(zhì)譜法、電化學(xué)法、X射線分析四大類，每種方法具有獨(dú)特的原理與適用場(chǎng)景。**1. 光譜分析技術(shù)** 以原子吸收光譜（AAS）、原子發(fā)射光譜（AES）和電感耦合等離子體光譜（ICP-OES）為代表。通過(guò)元素受激發(fā)后產(chǎn)生的特征光譜進(jìn)行定性定量分析，檢測(cè)限可達(dá)ppm至ppb級(jí)。例如ICP-OES可同時(shí)檢測(cè)70余種元素，適用于水質(zhì)重金屬污染監(jiān)測(cè)；手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）已實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)礦石成分。**2. 質(zhì)譜技術(shù)** 電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）將離子化元素按質(zhì)荷比分離檢測(cè)，靈敏度可達(dá)ppt級(jí)，是痕量元素分析的金標(biāo)準(zhǔn)。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料純度檢測(cè)、生物樣本微量元素分析。近年來(lái)發(fā)展的飛行時(shí)間質(zhì)譜（TOF-MS）顯著提升了檢測(cè)通量。**3. X射線熒光光譜（XRF）** 利用X射線激發(fā)樣品產(chǎn)生特征X射線，實(shí)現(xiàn)無(wú)損檢測(cè)。便攜式XRF設(shè)備在考古文物鑒定、土壤污染篩查中發(fā)揮重要作用，單次檢測(cè)可覆蓋從鈉到鈾等元素，但輕元素（Z